Accexp代理的Chroma提供业界的PXI半导体测试模块， PXI系统是为一个开放性的工业平台，目前PXI的系统已广泛且成功地应用于汽车测试、半导体测试、功能性测试、航空设备测试以及军事的应用之上。相较于现有的半导体测试业界的测试设备，PXI测试系统具备高效能与低成本优势，成为量测仪器产业新星。身为专业量测仪器厂商也同时为PXI联盟执行成员（Executive Member）的Chroma在对于PXI的推广更是不遗余力，在结合*的技术资源，提供业界的PXI半导体测试模块。

  从产品的发展应用趋势及客户群来看，Chroma产品经理纪瑞峻表示，目前我们已成功的研发出PXI平台的半导体逻辑讯号测试模块，使用PXI接口的标准机箱，提供100MHz可程序数字讯号测试模块(Model 36010)，该模块由一支持众多循序控制指令的测试向量控制卡(Sequence Pattern Generator)，以及逻辑脚位讯号卡（Logic Pin Electronics Card）所组成，用以发出待测品所需的电性讯号，并接受待测品因此讯号后所响应的电性讯号而作出产品电性测试结果的判断。每一逻辑脚位讯号卡有8个I/O通道，且采用Per-pin架构设计，每一I/O通道均配备有32M的测试向量内存(Vector Memory)、32组的时序设定、32组的波型(Waveform)设定以及参数量测所需的PMU功能。另外，该模块也具备扩充功能，每一张测试向量控制卡最多可支持8张逻辑脚位讯号卡，以提供最多64个I/O通道，并可同时测试8个DUT。在功能与效能的表现上，与现有大型的IC测试机台相当，能提供快速且准确的测试，而其价格却是只要传统设备1/3左右的价格。

  此外，Chroma也同时推出PXI接口的四象限DUT电源供应模块(Model 36020)，可提供待测IC稳定且精准的电压源。每组36020模块具备4个channels，每一个channel可提供16-bit精度的电压源，以及18-bit精度的电流量测功能，并拥有±250mA～±5uA等6个电流档位设定，特别适用于IC测试所需的高精度电流量测。目前主要客户群有IC Design House、学术机构、单位、系统整合商、DC/RF 仪器商以及现有致茂的客户。PXI是仪器界成长速的平台，目前致茂已有一些正在合作规划的厂商，因此纪瑞峻乐观的表示，PXI半导体测试新机种的市场成长力值得期待，未来也将持续开发新功能的产品，提供PXI半导体测试更完整的解决方案。

  SEMICON West 2009于7月14~16日期间，于美国旧金山 Moscone Center展馆，致茂的摊位位于South Hall（摊位号码225等4个摊位），会中将展示全系列的半导体测试解决方案及Solar测试解决方案，包含有SoC测试系统、自动化系统功能测试机、可程序数字讯号测试模块、四象限DUT电源供应模块….等。希望能透过此次展示，能让客户以及潜在客户亲身体验的产品与技术，并成功的推动半导体产品于产业的应用。